簡要描述：美國SlerNet光纖光譜儀——緊湊、便攜、穩定、操作簡單、性價比高。美國SlarNet 是專業微型供應商。其光譜儀外觀緊湊小巧，便攜設計，操作方便，性價比高，具有優良的電子系統和功能強大的探測器，是的。光譜測量范圍在190nm-2300nm之間，波長分辨率小于0.1nm。探測器采取插拔式設計，適用于各種應用與工業用戶的多樣化需求。

微型光纖光譜儀的

美國SlerNet為您提供光譜系統解決方案

——緊湊、便攜、穩定、操作簡單、性價比高。
 

*進行時…… 

美國SlarNet 是專業微型光纖光譜儀供應商。其光譜儀外觀緊湊小巧，便攜設計，操作方便，性價比高，具有優良的電子系統和功能強大的探測器，是的。光譜測量范圍在190nm-2300nm之間，波長分辨率小于0.1nm。探測器采取插拔式設計，適用于各種應用與工業用戶的多樣化需求。

  BLACK-Comet

  業績內光譜覆蓋zui寬的凹面光柵光譜儀
   280－900nm，zui大限度抑制雜散光。

•   *帶偏差校正的凹形光柵使光譜像近乎*
•   *凹面光柵設計使設備無反射鏡將漫射光抑制在zui低限度
•   *平面場在整個波長范圍具有均勻的分辨率（<1nm）
•   *在400nm以下的UV區域比平面光柵靈敏度高出50%
•   *設備集成度高（尺寸僅為2.7*4.3*6英寸）
•   *具有穩固的抗震結構，無需內部光學

   
BLUE-Wave小型光纖分光計
     UV-VIS-NIR&OEM

•   *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
•   *UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
•   *16bit的數據轉換，內置存儲器，高速的USB2的接口
•   *利用USB hub可以同時連接和驅動8個設備
•   *TTL同步觸發可以做等離子檢測和LIBS
•   *抗震動的小型堅固的金屬封裝

 
RED-Wave 近紅外InGaAs分光計
  0.9-1.7um&0.9-2.3um

•   *TE制冷512的InGaAs陣列，像元大小25*500um
•   *利用2次校正，可以得到4000:1的信噪比
•   *512探測器在25um的狹縫下具有5nm的分辨率
•   *可選1024探測器25um的狹縫具有2.5nm分辨率
•   *16bit數據轉換10倍的增益調制，高速USB2接口
•   *抗震動的小巧堅固的金屬封裝（2.7*4.3*6英寸）

GREEN-Wave 小型的低價位光纖分光計
    UV-VIS-NIR

•   *多種型號選擇波長范圍覆蓋190-1150nm
•   *UVN光柵技術在UV和NIR波段都有很好的衍射效率
•   *12bit的數據轉換，內置存儲器，USB1接口
•   *光學分辨率達到0.3nm（FWHM）
•   *抗震動的小巧堅固的金屬封裝
•   *低成本應用的理想選擇比如教學實驗和分光輻射度計
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LIBS系統

集成了微型和高峰值功率的小型激光器的LIBS系統（Laser Induced Breakdown Spectroscopy），可以進行野外實時元素定性分析。此LIBS系統手提箱般的大小，優良的抗震性和良好的溫度穩定性，使整套系統非常方便于野外作業。系統可以依靠電池或直流電源供電。通過一臺1064nm Nd:YAG 激光器（峰值功率達到MW量級）聚焦后打在目標物體上，以產生等離子體。在等離子體冷卻湮滅的過程中，等離子體束中被激活的原子會發射出與元素有關的特性光譜。一般元素的發射光譜都在200-980nm的波長范圍內。通過SlarNet提供的Spectral ID元素發光光譜數據庫，系統可以直接給出譜線所對應的各種元素。LIBS系統的優點在于，不需要任何樣品準備，測試時間非常短（一般在一秒鐘之內）。





 化學測量系統

ChemWiz-2000 是一款實用型的化學用光譜儀，可以用來進行各種物質的成份分析、濃度分析以及物質鑒別。很多物質都有其特定的吸收峰或吸收帶，我們只要測出該物質的吸收曲線，既可以對該物質進行一系列分析，如所含成分、含量等。ChemWiz-2000還可以實現在很多生產過程中實時監控。





 

輻射度測量

系統主要用于測量發光體的各波長的輻射度分布。輻射度光譜儀可以用來測量LED的光強，xy chromaticity （CIE 1931），純度，和主要波長等。光譜儀需要配合余弦接受器或積分球一起使用。SlarNet在輻射度光譜儀出廠之前,全部經過NIST（美國國家標準與技術研究院）標準光源的校正過，以保證測量結果的準確性。此外SlarNet還提供輻射度校正光源供客戶自己進行校正。








薄膜測量

在薄膜測量方面，光譜儀應用非常廣泛。薄膜厚度測量是基于白光干涉的原理來確定光學薄膜的厚度。白光干涉圖樣通過數學函數計算出薄膜厚度。對于單層膜來說，如果已知薄膜介質的n和k值就可以計算出它的物理厚度。

SlarNet可提供低成本的薄膜測量系統。可檢測多層結構，單層的，粗糙的，已經薄厚不均的樣品。測量膜厚范圍50A-20um，精度為0.2% 或者10A

熒光光譜測量

針對熒光光譜測量，美國SlarNet公司提供350-1000nm，200-850nm和250-900nm三種光譜儀配置。樣品被特定光譜范圍的激發光照射后，產生波長更長的熒光。用戶可以通過特殊的樣品池或者光纖探頭對熒光進行探測。光譜由一根1000um的光纖傳輸到光譜儀。如果需要，我們還能提供各種多通道光譜儀配置。

比較常用的激發光源是470nm藍光LED燈（SL1-BLUE），這種光源線寬為30nm，只需要20mA驅動電流，而且價格非常便宜。另外脈沖的氙燈（SL4-XENON）配合濾波器使用，可以提供更高強度的激發光。SlarNet提供的氘燈（SL3-DEUT）則可以提供高功率連續激發光源。系統提供IEEE1248和USB-2.0兩種接口。光譜儀驅動電流為5V，系統附帶有交流轉直流變壓器。

顏色測量

 SlarNet微型光譜儀可以對各種樣品進行顏色測量和對比，通過光纖反射探頭可以對固體樣品的顏色進行測量；通過浸入式光纖探頭和透射試管可以對液體的顏色進行測量。系統附帶功能強大的SpectraWiz，而且這套軟件是*免費的！對于顏色測量，SpectraWiz系統提供標準的CIE 1976 L* a* b* （CIELAB）顏色空間數據。L*代表顏色的亮度。正a*值代表紅色，負a*值代表綠色。與此相似，正b*值代表黃色，負b*值代表藍色。L*a*b*值可由樣品（物體）的CIE三刺激值X，Y，Z和標準光源的三刺激值Xn, Yn, Zn推導得到。  
對于比色測量，需要先對一個標準的樣品進行測試并保存其光譜。然后系統可以根據所測樣品和標準樣品的光譜差別計算出△E，△E用以表征兩種樣品顏色的差別。對于需要多束光得color monitors過程,SlarNet還可以提供相應得多通道光譜儀。