光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了zui高精度的亮度、色度測量。現有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對FPD產線測試不同測試應用。具有如下總的特點：

1、V-7HS是三者中靈敏度zui高、測試速度zui快的機型，可在不影響測試度和重復測試精度的前提下，zui短時間內實現zui大數量的產品測試——毫秒時間內實現低亮度測試，在僅250ms的測試時間內實現0.5cd/m²的微弱亮度測試（測試LED背光LCD）；幾秒鐘內實現完整的灰度等級、Gamma和色度測試（取決于亮度等級和測試數量）等。

V-7HS：高精度，快速測量，針對于低亮測試應用

2、V-7WD則提供了高速測量的解決方案，針對高亮背光模組、LED模組等高度和重復精度的*化測試。具備更寬的亮度測試范圍：0.002-60000 cd/m²（如測試白光LED），近乎實時的快速、高、高重復性光譜輻射度計。

V-7WD：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發光源測試

3、而V-6AQL則專為簡潔的工業檢測量身定制，針對關鍵環節的測量，如AQL、IQC及OQC等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設計保證度和重復精度，滿足或優于客戶的生產需求。

V-6AQL：經濟、便攜的解決方案，適用于QC/QA測試

4、靈活的定制——由于產線測試環境的不同（如工作距離、測試區域和系統控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發的SDK包以更快捷、輕松集成到用戶的ATE系統， 針對不同測試對象的“EasyProfile”自分析技術等。